故障覆盖率相关论文
存储器作为片上系统（SoC）中最大和最重要的模块之一，它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率，该文......
在现场可编程门阵列内嵌块存储器（BRAM）测试中，传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆......
增强测试质量和抑制测试代价是超深亚微米集成电路测试及可测性设计领域的两个研究主题。这篇论文介绍了一个面向多种故障模型的超......
本文结合曙光6000全局集合通信芯片的结构特点与测试需求，为该芯片制定出了一套完整的可测试性设计(DFT)方案，包括普通扫描、实速扫......
征兆测试(Syndrome Testing)和奇偶测试(Parity Testing)是已经使用多年的基于穷尽输入的固定型故障测试方法。本文在征兆测试与奇......
随着集成电路的不断发展,芯片的集成度和复杂度越来越高,片上存储容量不断增大,导致片上存储器测试难度和测试成本显著提高.本文主......
星载计算机系统是卫星上对信息进行采集、处理、分配、存储和响应的关键部件,而星载处理器则是星载计算机系统中的最重要的部件,为......
将EDA(电子设计自动化系统)及ATPG(自动测试图形产生)工具与ATE(自动测试设备)集成在一起,使得I_(DDQ)测试更为实用。
Integratin......
对两种基于反馈的自测试（BIST）方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移......
本文针对线性模拟电路，提出了一种基于系统状态变量的ＢＩＳＴ方法。该方法将系统的状态、状态变化率及输入信号进行加权求和，以此加权和作为......
提出了部分扫描可测性设计的最优实现方法，包括扫描触发器的选取、组合功能块的划分、扫描链的排序以及测试码生成等几部分内容
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本文提出了多链扫描可测性设计中扫描链的构造方法．根据电路的规模、输人／输出管脚数及测试时间的要求确定扫描链个数，引人临界时间的......
文中介绍一种功能多、故障定位准确、操作方便、价格低廉测控系统电路专用智能故障诊断仪。使用该仪器,可有效地缩短电路故障排除......
本文讨论了同步时序电路初始化问题，提出了一种基于电路存储元件逻辑定级和可控性分析的同步时序电路逻辑初始化方法。同时也给出了......
随着高速集成电路的发展,对时滞测试的研究越来越重要了,时滞测试的主要困难来自于与电路的门数成指数增长的庞大通路数,以及大量......
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。
This article discusses the VLSI functional test automat......
在超大规模集成电路设计过程中 ,门级故障仿真通常因仿真速度太慢而不能满足市场需求 ,因此近年来寄存器传输级 (RTL)故障仿真成了......
针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难的问题,本文提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。......
征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者......
传统交流故障字典法通过施加不同频率的正弦激励,以获得对待测电路中频率敏感元件更高的故障覆盖率。为减少多次对待测电路施加激......
近年来,电路系统日趋复杂,电路板集成度越来越高,对包含大规模/超大规模集成电路(LSI/VLSI)的电路板进行故障诊断是当前面临的重大......
针对数字电路中非鲁棒路径时滞故障测试时间长、故障覆盖率较低的问题,提出了人工蜂群优化的测试生成算法。该算法首先应用电路转......
随着集成电路设计和制造水平的不断提高,测试面临着越来越多的困难,可测性设计(DFT)成为解决测试问题的主要手段。其中,内建自测试......
一个数字系统在使用的过程中要经历无数次的测试和诊断过程,测试和诊断要求快速,有效(故障覆盖率高).解决问题的方法是将测试变成......
随着计算机系统应用到航天、军事、工业等高可靠性领域,人们对计算机的系统在软件和硬件方面的可靠性要求也大大提高.故障注入作为......
随着半导体工艺尺寸的不断缩小，集成电路设计规模越来越大，芯片的测试变得越来越困难，测试的成本也在不断增加。为了减小芯片的测试难......
指令级测试方法是一种通过指令测试微处理器自身故障的测试方法。指令是微处理器芯片区别于其他芯片的重要特点。指令流控制微处理......
随着集成电路设计规模的增长和制造工艺的不断进步,高性能处理器芯片在测试和验证等方面面临着日益严峻的挑战。可测试性设计(Desi......
本文以国防"十五"预研课题"星载计算机系统可靠性评测技术研究"为背景,研究了基于软件的故障注入方法.重点研究了软件故障注入的四......
半导体制造工艺的发展带来了晶体管单片集成度的增加,电路设计能力的提升推进了集成电路功能和复杂度的提高。这样,集成电路规模便......
集成电路测试是保证芯片质量的关键步骤之一,一个微不足道的故障带来的损失都可能是无法估计的,所以集成电路测试一直是集成电路领......
集成电路(integrated circuit,IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻辑,又要保证IC芯片在规定的时......
随着集成电路(integrated circuit,IC)设计水平和制造工艺的快速提高,芯片的规模和设计复杂度急剧增加,芯片的时钟频率不断提高,这......
随着工艺技术水平的不断提升,单个芯片上集成的器件单元数量急剧增加,芯片面积不断增大。单元间连线的增长既影响工作速度又占用大......
本算法根据故障的可检测性导出了电路引线的“G-F”二值描述和“G-F”二值基本运算公式,根据这一公式分别求故障块和敏化块的测试......
本文介绍微处理器功能测试系统MFTS的总体结构和工作原理,该系统采用一种无故障模型,测试序列灵活多变,因而故障覆盖率也是可变的,......
针对单个ｓｔｕｃｋ－ａｔ故障，研究了Ｎ位加法器的测试矢量生成问题。对于行波进位加法器，只需８个测试矢量就可得到１００％的故障覆盖率；对于Ｎ位先行进位加法器，只......
本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。该系统以FAN算法为基础,通过对电路结构分析来产生组合电路的测试码,......
本文提出了一种通过改变线性反馈移位寄存器 (LFSR)的结构实现低功耗内建自测试方法。在伪随机测试方式下 ,随着测试的进行 ,测试......
本文对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计应用中存在的问题......
