测试向量相关论文
随着存储器的不断发展，实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大，有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制，因......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
逻辑功能测试是集成电路测试中的一个重要环节。电子产品逐渐趋向小型化发展,不可避免的增加了芯片功能测试的复杂度,为了提高芯片......
基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位......
现如今,随着互联网的普及,移动通信设备迅猛发展且逐渐成为人们日常生活中不可或缺的一部分。基带芯片作为移动通信设备的核心,其......
立方和问题是数论中一个经典的丢番图问题.它的目的是确定哪些非零整数n能够表示为两个立方数的和,即是否存在两个非零有理数a和b,......
复杂恶劣的太空环境使得航天器中的数字电路模块容易出现故障,且电路发生故障后人工维修极其困难甚至不可达。仿生电子阵列具备自......
随着机载电子设备在航空领域应用的不断拓展,功能日益强大的机载电子设备的复杂程度也在不断提高,这使得其测试难度也随之递增。可......
以一款视频图像定标器为研究对象,提出了一种适用于大规模数字集成电路的软件功能性验证平台,详细阐述了平台的结构、平台中测试向......
本文对几种可行的可测试性设计技术进行了分析,并对可测试性设计的支持环境进行了简要描述。据出了可测试性设计是新一代电子产品......
本文论述了DSP芯片测试技术发展趋势,介绍了一种适用于在自动测试设备上开发DSP芯片测试程序的方法,包括测试程序开发流程、测试接......
随着科学技术发展,嵌入式单片机正发挥着越来越重要的作用,广泛应用在生产、生活及科研领域。从实现数据采集、过程控制、模糊控制......
USB3.0是当前最热门的研究领域之一，其理论传输速率可达5.0Gbps。针对一款已设计的USB3.0设备控制器IP核，能否搭建有效的验证平台、......
介绍了一种基于VFP (VisualFoxPro)开发软件的雷达数字电路板故障诊断软件测试平台的测试向量生成和故障字典模块设计方法 ,重点讨......
随着信息化和数字化技术的发展，双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度，增加了测......
1.0简介rn当前,设计验证已经成为半导体芯片设计过程所面临的主要难题之一.如何确认芯片能够在相关应用中正确运行?除了需要写出尽......
为了实现数字芯片逻辑功能的测试,本文介绍了一种便携式IC逻辑功能测试仪的设计方法,包括系统组成、硬件设计和软件编制.本设计采......
针对测试向量转换失效的原因进行分析,研究了在转换前通过噪声消除与虚拟信号合成方式提高测试向量转换成功率的预处理技术.基于常......
描述在测试过程中不超过额定功率的集成电路测试问题 ,采用了基于Hammilton图的测试向量排序方法。此方法在不改变故障覆盖率情况......
期刊
提出一种测试功耗优化的新方法,它通过阈值门电路调节和漏电流优化两种方法相结合来降低静态功耗。通过算法寻找电路的关键路径,去......
文章提出了一种硬件开销小的降低测试功耗的折叠控制器设计方案,该设计方案在原有折叠控制器的基础上只需对其中的折叠索引计数器......
介绍了针对ATE应用和TPS开发的需要首次在W indows NT平台上研制的一套数字电路诊断测试数据自动生成的实用化软件系统OCTOPUS100......
一种数模混合芯片通过在芯片设计过程中，增加了可测性设计，使得芯片建立故障的敏感化通路，观测到芯片对于激励的响应，从而判断电路是否......
提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案．通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播．同......
充分地利用电路的结构信息,提出一种应用基本门单元完全测试集的测试生成算法,并给出了一些应用实例,表明了算法的可行性。......
为满足当今的高速网络中高带宽、高密度存储器要求,四倍数据速率静态随机存取存储器(QDR SRAM)广泛应用于路由器、交换机、集成器......
研究了利用虚拟仪器对数字电路板进行测试,从而实现功能验证和故障诊断的方法。提出了系统的总体设计方案,并完成了硬件平台的搭建......
航天等领域对集成电路可靠性要求较高，要求其具有在线测试功能，以便及时发现故障，减少损失．结合现有扫描设计方法，设计了一种改进的扫描......
(接上一期)CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用......
文章提出了一种基于折叠集的混合模式BIST低功耗设计方案,该设计方案通过对混合模式BIST的优化设计,得到伪单输入跳变的测试向量集......
多扫描链测试技术能有效减少测试用时和压缩测试数据，但该技术需要较多的数据输入通道，因而会导致测试成本增加．为了解决这种矛盾，一种......
针对寄存器传输级(register transfer level,RTL)行为的抽象,提出了一种层次化的带条件的表示.这种抽象的行为是面向测试的,它不仅......
文中介绍一种新型微处理器的验证方法,并对相关的一些验证策略进行深入的讨论....
如何对系统芯片（SoC）中内嵌的模数转换器进行验证测试,是集成电路测试技术研究的重点和难点之一。对一款应用于有线数字电视传输中信......
鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视，分析了它在实际使用中存在的误区，介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构，阐述了边界扫描的......
随着多媒体教学手段和各种辅助教学软件的引入,使课堂教学趋于多样化、现代化,灵活的教学方式使得学生一改往日的单纯听教师在黑板......
介绍了边界扫描技术在C919交换机项目中的设计与实现。详细阐述了边界扫描技术原理、交换机JTAG链的硬件设计、Corelis公司的JTAG......
摘 要 该文提出了一种原理图级电路设计自动审查系统协同设计实现方案。这种技术的关键就在于将设计和测试向量融为一体，即当设计......
本文提出了一种模拟电路测试向量故障仿真方法.与传统的故障开关法相比,使用该方法求解模拟电路各种故障状态下的测试向量时,所需......
结合一个实际电路,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法.该算法首先划分电路功能块,然后基于功能测试的思......
能否对所获取的测试信息进行有效处理并对可能存在的故障进行精确诊断,是可测性技术成功应用的关键.结合广泛采用的BIST技术,应用......
专用集成电路（门阵列ASIC芯片和FPGA芯片）在某重点型号空空导弹的各个组件上大量使用。而且随着微电子技术的发展,专用集成电路在今......
提出一种蚁群算法和粒子群算法相结合的方法（ACA-PSO）,将该算法引入数字电路测试生成当中。为了有效提高故障覆盖率和缩小测试生成时......
时序电路的测试序列通常由各个单故障的测试向量组成.为了减少测试时间和功耗,提出2种测试向量融合算法.借助融合灵活性的概念,2种......
介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法......
