自动测试设备相关论文
“没有测量就没有科学”。自动测试系统（ATS）对于复杂机电系统的开发和质量保证具有重要的意义,作为自动测试系统的重要组成部分,模......
随着集成电路的使用环境变得更加严酷,为了保证芯片在较大的温度范围内有较高的稳定性,在芯片的可靠性评价考核过程中必须对芯片进......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
全球半导体产业发展的几十年中,芯片的测试成本一直占据芯片总成本中的很大比例。芯片测试成本主要是时间成本,如何有效地减少测试......
本文讨论了自动测试设备(ATE)和被测单元(UUT)模型,该模型使用信号描述方法定义了ATE测试能力和UUT信号要求,重点介绍了接口测试适......
本文在充分总结ATE自检设计经验的基础上，提出一种ATE系统自检的设计方式，该方法充分利用ATE现有的硬件电路，在测试函数的基础上编写......
提出了一种用于数字IC测试仪的逻辑功能测试单元的设计方法。本文介绍了数字IC测试仪的系统组成及逻辑功能测试的基本原理，给出了基......
In this article, we would introduce preliminary knowledge and principle of ISD as well as some basic technical and marke......
A production loss based maintenance plan is proposed to reduce the semiconductor testing cost due to unscheduled ATE (Au......
新一代的自动测试设备具有更丰富的可配置资源,但同时也使得传统的手工配置测试资源的方法变得十分困难.为自动优化配置测试资源,......
本文提出了基于资源服务的并行测试技术,该技术基于目前通用自动测试设备的硬件结构,通过调整软件系统结构,在不增加测试程序开发......
本文报告介绍了美国海军联合自动化支持系统的主要技术性能、型号变型和改进,计划进展,发展趋势以及未来展望.......
TestCenter是中国电子科技集团公司第四十一研究所研发的一个专为加速开发测试系统软件而设计的测试管理软件平台。为了解决利用仪......
军用自动测试设备(ATE)是军用电子武器、现代化指挥系统安全运行和准确操作所必需的重要支撑设备.本文介绍了军用自动测试设备的发......
介绍了自动测试系统(ATS)和自动测试设备(ATE)的应用及未来发展趋势，通过实例分析，着重介绍了测试总线技术的应用发展情况。......
为解决电子装备中射频电路模块的测试与故障诊断问题，设计了基于LXI新型总线技术的射频模块自动测试设备；该自动测试设备集成了......
简要介绍了外军ATE/ATS的发展,重点分析了美军、法军ATE/ATS技术发展的现状,阐述了军用ATE/ATS未来的发展趋势.......
本文从系统效能的普遍公式出发,结合导弹武器系统的具体情况,对通用ATE与专用ATE的系统效能进行评估.作为示例,评估了采用VXI总线......
介绍了自动测试设备系统自检的功能及工作原理，着重讨论了系统自检硬件模块和软件设计的实现方法。在系统自检的同时加入计量的考虑......
自动测试设备(ATE)的检定及校准是保证ATE性能和质量的重要环节之一，其中直流参数的检定及校准是所有ATE都需要的基本工作。本文讨......
本文介绍了一种基于VXI总线的数字I/O模块(型号为DIOM-64)在数字电路板ATE中的应用,内容包括模块的工作原理和测试设备的组成.该数......
摘要：30多年以来，自动测试设备（ATE）已经成为电子系统维修和保障的主要方法和工具，它广泛应用于军用航天系统的系统级及电路板级测试中......
利用红外热成像技术可以对印刷电路板（ＰＣＢ）进行有效的非接触测试。在建立ＰＣＢ的标准热像（ＳＩＰ）后，通过计算机快速自动地比较分析被测板（ＵＵＴ）热像和从存贮......
“1997年中国国际VXI/电子仪器与自动测试设备学术暨展示会”将于5月12～16日在北京中国科技会堂举行。自“1996年中国VXI应用技术......
将EDA(电子设计自动化系统)及ATPG(自动测试图形产生)工具与ATE(自动测试设备)集成在一起,使得I_(DDQ)测试更为实用。
Integratin......
本文主要论述了静态电流(I_(DDQ))测试的优点以及I_(DDQ)监测器的发展情况。文章同时也给出了质量测试工作组(QTAG)产生的历史背景......
AC1）assignedcontractor已签订合同的承包商ACAVautomaticcircuitanalyserandveri－fier自动电路分析检验器ACCantomaticcheck－outequi......
基于PC机的丰富软、硬件资源环境提出了一种经济、可靠和高效的数字电路诊断系统软、硬件的设计方法.其可行性已在实践中得到验证.......
ATE(Automatic Test Equipment—自动化测试设备)是解决现代日益复杂的军用电子维修的有效手段之一。一些先进的国家应用ATE,建立......
随着半导体工业的迅速发展，印刷电路板（ＰＣＢ）故障的检测和诊断已经成为ＰＣＢ制造过程中的一个核心问题。本文介绍了红外热成象技术（ＩＩＴ）检测ＰＣＢ故障的原......
德州仪器(TI)日前推出新型功率器件,用于要求高可靠性的产品(如汽车和工业控制系统等)。新产品属于TI的Power+驱动器和控制器系列......
在8月25日举行的AUTOTESTCON’98“系统备用”技术会议中,HP公司展示了新的VXI微波合成器解决方案。 HP E6432A是为航空航天、防......
二十世纪六十年代,伴随集成电路的问世,诞生了集成电路测试设备行当。集成电路是个前无古人的开创性的产业,集成电路测试设备自然......
本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边......
企业改革 坚定信心国企将拥有明天·························、··················......
技术前沿OUTLOOK创新和竞争的旋律(三)Dc/Dc模块改变了封装模样陶瓷封装指望在未来的无线和宽带应用产品中一展身手新的数字式PwM......
美刊《EE》在2002年第6期公布了2001年度读者评选出来的获奖电子测量仪器。这些测试仪器和设备主要有: 自动测试设备 Schlumberge......
通过将测试与设计、验证、生产过程等融合在一起,正在致力于改写半导体生产的未来。作为一个自动测试设备(ATE)行业的领导者,科利......
自动测试设备(ATE)需求对于控制光电器件成本并保证其可靠性来说,自动化测试非常关键。有源光纤光学器件和模块不断演化,即使在目......
当今的IC和印制电路板非常复杂,需要进行大量而且复杂的测试,因而电子产品的开发和制造成本大幅度上升。
Today’s ICs and print......
随着无线通讯产业推动芯片集成度的不断提高,系统级封装(SIP)和多芯片组件(MCM)被更多采用,射频系统级芯片(RF-SOC)器件的良品测试......
