并行测试相关论文
随着集成电路的使用环境变得更加严酷,为了保证芯片在较大的温度范围内有较高的稳定性,在芯片的可靠性评价考核过程中必须对芯片进......
随着微纳卫星需求量不断增长、任务复杂度不断增加以及研制周期的持续缩短,传统定制化的卫星地面测试系统已渐渐力不从心,开始逐渐......
学位
为了适应日益增长的辐射检测行业对核辐射探测传感器——GM计数管的需求,用于提高GM计数管生产中测试工序的测试效率的各种想法和......
针对卫星的地面测试、系统演练及在轨运行等需求,提出了基于信息流的耦合数字卫星构建方法,通过低成本、低风险、高效率的模拟硬件......
为提高作为自动驾驶系统安全性验证手段的场景测试的效率,本文中提出了一种自动驾驶系统并行加速测试方法.首先根据自动驾驶系统测......
随着我国装备服役年限的增长和实战化运用水平的提高,间歇故障出现的频率越来越高,日益成为影响装备服役安全和任务成功的重要因素......
本文针对现有换流阀均压测试方法存在的问题和面临的困难,研制了一种新的换流阀均压测试仪,该仪器实现了晶闸管均压并行测试,从而......
针对当今工业现场实际过程控制测控平台的特点和课题组科研的需要,结合测控技术、计算机技术、数据库技术以及总线和网络技术,构架......
存储单元内建自测试技术(MBIST),可以很方便的通过很少的信号反映被测存储单元的结果.但是SOC芯片上可能会有许多不同类型的存储器......
To lower cost of flash testing, fan-out mode, also called wired-OR mode is implemented to increase testing parallelism. ......
本文通过简单介绍RFID技术,并分析目前RFID测试技术的热点,结合实际工作经验提出对RFID直接耦合测试以及并行测试的一些理解.......
本文提出了基于资源服务的并行测试技术,该技术基于目前通用自动测试设备的硬件结构,通过调整软件系统结构,在不增加测试程序开发......
通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若......
0626656基于Labview开发环境的光强度自动测试仪〔刊,中〕/刘波//西华大学学报(自然科学版).—2006,25(4).—92-94,100(G)0626657......
基于消息传递的多指令流多数据流（ＭＩＭＤ）多机并行系统，提出一种组合电路测试图形生成的新的并行处理方法。该方法首先定义基本门电路的特征......
边界扫描和其它可测性设计技术在当今系统级测试集成中扮演着越来越重要的角色。在过去一年里,随着可利用的元器件和工具逐渐增多......
该产品将具有ATE时序功能的多通道结合入单—ASIC器件。芯片的数字与模拟部分隔离,阻止通道间的相互影响,使得VLSI测试系统的64个......
文章分析了现有的电气网络互连故障的并行测试方法，指出它们在故障诊断上的局限性。提出了评价测试向量集及其生成算法的系统化方法......
德律科技公司近日举办测试系统技术研讨会，并重点推介了他们的TR-6020/TR-6050 IC Tester集成电路测试系统。它们的测试速率分别为2......
现今的系统芯片SOC(system on a chip),在复杂度逐渐增加的同时,也面临着半导体测试上的巨大挑战。其中,主要的课题是降低平均售价......
德律公司于2002年推出的TR-6800电源管理 IC 测试系统,经过一年的市场验证,已经获得多家 IC 设计公司及 IC 测试代工厂陆续导入测......
于2002年推出的TR-6800电源管理IC测试系统,经过一年的市场验证,已经获得多家IC设计公司及IC测试代工厂陆续导入测试使用。TR-6800......
该文对无线集成电路测试方法进行了研究,结合无线测试方法,提出了调制矢量网络分析(MVNA)和多射频接收器的真实并行测试方法,解决......
数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础,已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案,包括功......
2006年4月4日,科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台 SapphireTM D-10测试系统。该测试......
2008年4月30日,美国吉时利(Keithley)仪器公司宣布增强了其ACS(自动特征分析套件)软件,纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用......
半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)旗下全资子公司Touchdown Technologies推出了其1Td300全晶圆探卡,这是该公司首款用于高级DRAM存储......
为了降低数模混合片上系统(system on chip,SoC)的测试成本,基于片上虚数字化,提出了并行模拟测试外壳组设计,用数字自动测试设备......
在集成电路测试过程中,为提高生产效率,常使用多SITE并测的方法。但多SITE并测,容易出现连线交叉错误,导致测试异常,造成严重的质......
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TTCN-3是欧洲电信标准协会(ETSI)于2001年推出的一种测试描述语言,可用来描述对交互式系统的黑盒测试。通过使用TTCN-3,能够将测试......
并行测试主要目的就是提高测试系统运行效率,多个测试任务同时运行,降低设备闲置时间,系统资源得以有效利用。并行测试中的任务调......
并行测试是指测试系统并行地对被测系统进行测试。通过并行测试能够减少测试时间以及其它开销,提高测试效率。TTCN-3语言的重要语......
针对基于有限资源并行测试任务调度困难、资源配置不合理、测试效率低下问题,提出一种并行任务调度优化算法,以蚁群算法为基础,在......
组合测试是一种黑盒抽样技术,它采用组合的思想精简测试用例集规模,并且能够解决组合爆炸问题。经验数据表明,二维覆盖组合测试能......
为了提高地面测控系统自检的测试效率,提出并实现了一种基于并行测试技术的系统信号回环自检测试方法.将地面测控系统的所有对外接......
介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法。
Introd......
安捷伦科技日前宣布,为其市场领先的传输测试仪J2127A推出一种新型多端口以太网测试功能。通过这一新功能,服务供应商对城域以太......
日本安藤电气公司近期又推出了LSI测试设备——“DIC—9000”系列的三个新机型,即,“DIC—915”、“DIC—9136”、以及“DIC—9137......
复用数据总线作为测试传输机构的测试结构可以大大减小可测性设计的面积开销。因此 ,提出了一种针对该结构的测试包设计新方法 :通......
