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附录线性反馈移位寄存器(LFSR)理论由于线性反馈移位寄存器在结构上简单而且相当规则,其移位性质容易与串行扫描结合起来,而且能......
本文主要依据《A Tutorial onBuilt—in Self—test》Part Ⅱ:Applications,IEEE Design ＆ Test of Computers June 1993PP67—77编......
本文在简略地回顾DFT技术发展过程的基础上,通过比较DFT和SFT,阐述了开发高级测试综合工具的重要性,给出了高级测试综合的基本概念......
对两种基于反馈的自测试（BIST）方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移......
测试是电子工业生产中的重要组成部分,所有的测试都是为了这样一个目标:生产高质量的产品。长期以来,特别是对于军工电子产品,为......
模拟集成电路的复杂性和制造密度的提高,使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务,传统的模拟电路的测试,被局限在外接一定......
本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层......
本文针对线性模拟电路，提出了一种基于系统状态变量的ＢＩＳＴ方法。该方法将系统的状态、状态变化率及输入信号进行加权求和，以此加权和作为......
1998年模拟和混合信号IC的主要成绩包括具有了可编程性、封装水平提高以及性能价格比的突破性提高。其他一些值得注意的宣布还有......
虽然内置自测试(built-in-self-test简写为BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公......
本文以先行进位加法器为例，将确定性测试方法与伪随机测试方法相结合，提出了实现内建自测试电路中测试生成器的、在测试时间和测试电......
本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边......
在现代电子微组装条件下 ,常规电子测试技术已显难以为继。一种以边界扫描技术为核心的全新测试概念、理论与技术 ,正在受到各国测......
一 篇首语 在进入对《突厥语大辞典》 (Ｄｉｗ仭ｎｕＬｕｇｈａｔａｔ Ｉｕｒｋｉ,以下缩略为ＤＬＴ)中的Ｔｉｍ ｋ与Ｂｉｓｔ 二词的讨论前 ,在此有必要约略概述一下ＤＬＴ之作者玛赫穆德·喀什......
Logic Vision公司宣布 Agere系统公司已经决定采用该公司的 BIST(内部自检 )技术 ,应用于芯片制程。根据协议 ,Agere将采用 Logic ......
Y2002-63377-176 0314445灵活电路结构小面积再定时=Min-area retiming onflexible circuit structures[会,英]/Baumgartner,J.&K......
传统的 BIST结构中 ,由于 LFSR产生大量的测试矢量在测试过程中消耗了大量的功耗。为了减少测试矢量的数目而不影响故障覆盖率 ,我......
In this paper, an Ethernet controller SoC solution and its low power design for testability (DFT) for information appli-......
A novel built-in self-test (BIST) approachto test the configurable input/output buffers in Xilinx Virtex series SoCs (sy......
Sudoku enthusiasts gathered in Beijing for a championship of intelligence and speed The Second Beijing International Su......
提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置......
数字高清晰度电视(Digital HDTV)作为第三代电视标准，已成为当今世界高技术竞争的焦点，对世界的政治、经济和文化将产生巨大而深远的......
软件内建自测试摈弃了传统的独立的手工测试方法,提出在软件开发过程中通过模板与程序开发人员交互得到有用的测试信息并将其保存......
软件测试是软件质量保证的关键元素,并代表了规约、设计和编码的最终评审.一方面,软件系统作为系统元素的可见性不断增加,而且软件......
Design for Testability(DFT) is critical in chip design.DFT techniques insert hardware logic to an original design,in ord......
随着半导体工艺的不断进步,那些原本存在于芯片中的大型存储器会转变为数十数百个小型存储器,并分布在芯片中各个角落。宏测试是用......
存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是 BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上......
本文试图采用内建自测逻辑(BIST—Built—In Self Testing)的结构化可测设计方法解决 VLSI 的自动测试问题。给出了 RAM 的错误模......
要有效地解决存储器测试所遇到的困难,最好的方法就是在元件的内部直接加上自我测试的功能,Mentor Graphics公司的MBIST Architec......
单片系统,即SOC,是人们希望把电子产品做得更小一些,实际上是想把整个系统都放在一块小小的硅片上的必然结果。但对单片系统的测试......
系统LSI的存储器测试技术有直接存储器访问测试、高速直接存储器访问测试及内置自测试,几种方式各有优缺点,最好能加以组合应用。
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在布局、网络列表和可综合的寄存器传送级格式中,内核已经成为芯片设计方法的一个完整部分。芯片是高度集成化的,元件密度很高,设......
本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器 (L FSR)结构来降低内建自测试 (BIST)的功耗。这种结构通过矢量间的距离而不是矢量......
1 引言 PLA(可编程逻辑阵列),由于其简单性、规则性和灵活性,已成为经济地实现ASIC及微处理器的结构之一。一般说来,人们选用PLA......
根据ＭＴＤ 雷达数字信号处理机的特点，分别讨论了信号域测试与数据域测试的内建自测试（ＢＩＳＴ）方法，提出了一种新的数据域ＢＩＳＴ方法，并计算了这种测试方......
Satellite geodesy is capable of observing glacier height changes and most recent studies focus on the decadal scale due ......
Testable design techniques for systolic motion estimators based on M-testability conditions are proposed in this paper. ......
根据MTD 雷达数字信号处理机的特点,分别讨论了信号域测试与数据域测试的内建自测试(BIST)方法,提出了一种新的数据域BIST方法,并......
The conventional test-per-scan built-in self-test (BIST) scheme needs a number of shift cycles followed by one capture c......
提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离......
该文首先介绍了BIST的产生背景、基本概念和实际应用.在此基础上,通过对线性移位寄存器（LFSR）及其产生的测试模式的分析,研究了测试......
随着深亚微米工艺的出现，片上系统(SOC System on Chip)和甚大规模集成电路成为现实，更多的集成意味着芯片中可能存在更多的故障。另......
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生......
