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为改善北师大外束PIXE系统对Al、Si等较轻元素的探测限，在该系统探测器前加装进He装置。采用美国MicroMatter公司的标准样品，在进He......
通过改变标准样品的前后位置和摆放角度,研究样品位置对外束PIXE分析中Ar、Si、Ca、Fe等元素的特征X射线归一化峰面积的影响,并以......
外束PIXE束流均匀性是对非均匀性样品进行PIXE定量分析的基础.利用IP板对北京师范大学GIC4117 2×1.7 MV串列加速器外束PIXE束流均......
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