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通过改变标准样品的前后位置和摆放角度,研究样品位置对外束PIXE分析中Ar、Si、Ca、Fe等元素的特征X射线归一化峰面积的影响,并以此为依据分析外束PIXE对样品定位精度的要求。结果表明：为使由样品位置变化引起的相对误差在5%以内,样品摆放位置需精确到±0.14 mm;为使由样品角度引起的相对误差在5%以内,样品摆放角度需精确到±1°。