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组分渐变层相关论文
用InGaAs材料制作的2.6μm光电探测器
介绍了2 .6 μm In0 .82 Ga0 .18 As/ In P P- N 异质结光电探测器,组分渐变层对调节 In P衬底与 In0 .82 Ga0 .18 As 之间的2 % 的晶格失配是有效的。在2 .1 μm ~2 .6 μm 区域,量子......
期刊
光电探测器
InGaAs材料
晶格失配
组分渐变层
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