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基于CCD工艺的模型参数提取测试
介绍了一套基于CCD工艺的模型参数提取用测试图形(Testchip)设计方法。该Testchip的设计充分考虑了CCD工艺特征、中测测试条件、CC......
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55nm工艺平台的标准单元库电路与版图设计研究
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