FN隧穿相关论文
分别研究了FN隧穿应力和热空穴 (HH)应力导致的薄栅氧化层漏电流瞬态特性 .在这两种应力条件下 ,应力导致的漏电流 (SILC)与时间的......
研究了在软击穿后MOS晶体管特性的退化。在晶体管上加均匀的电压应力直到软击穿发生的过程中监控晶体管的参数。在软击穿后，输出特......
