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本文提出一种能兼顾状态内分枝的状态覆盖方法.在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句,将原先的单个转换分成多个转换分枝......
由于电路宽度很好地反映了电路的复杂性,本文提出了一种基于电路宽度的启发式策略,根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替,充......
基于对FAN算法的分析,本文在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.文中......
集成电路(integrated circuit,IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻辑,又要保证IC芯片在规定的时......
为了解决3D并行测试时测试功耗密度大，造成的局部过热问题，提出一种热量敏感的并行测试方法．首先分析了众核芯片采用并行测试时面临的......
对目前宽带网络性能测试技术和性能测试指标进行了介绍，分析了网络性能测试产生并模拟真实的数据流量的特点，并对采用端到端的方法测......
进行语言教学，离不开语言测试；从事语言教学研究，少不了要探讨学习者的语言习得规律，其中研究中介语的形成、变化、发展是一项主要内容......
近年来,室内空气质量和建筑能耗问题越来越受人们的关注,使得全热交换器得到了快速发展,所以此文对全热交换器作了简单介绍并对其......
超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成......
本文提出了一种改进的RT级测试生成方法,这种方法使用基于模拟的遗传算法,在使用基本块和基本块之间依存度概念的基础上对适应适函......
本文提出了一种基于电路RTL行为描述的传输故障模型,以便于在电路的RTL描述级别上直接对其进行测试产生或可测试性分析.这种传输故......
本文首次介绍一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG.该系统从局部产生测试和后效作用两个新概念出发,以FAN算法为基础,......
提出了有限状态机的行为阶段和行为阶段聚类的新概念,它是介于有限状态机的行为级描述和低层描述(状态表或状态图)之间的一种新的......
瞬态电流测试（IDDT Testing）作为传统电压测试和稳态电流测试（IDDQ Testing）方法的一个补充，越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不......
针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。该算法利用改进FAN算法的反向蕴涵部分激活故障并将测试向量空间映射到混沌空间,采用混......
进延测试对于高速集成电路非常重要。本文介绍一个带时间参烽的时延测试产生系统。该系统使用一个时刻逻辑值来表示一个波形，并将输......
瞬态电流测试（IDDT Testing）法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。但测试时需要一次生成两个......
＂汤姆将橙子切开后吃了一些,他准备将剩下的橙子留着待会吃。他妈妈说,要用保鲜膜包住这些切开的橙子,否则它们会变干。汤姆决定探......
始于90年代的瞬态电流测试（IDDT Testing）法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。瞬态电流测试......
在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法 由于电路宽度能很好地反映电路的......
本文研究将人工神经网络用于组合电路测试产生的一般模型，分析影响这一方法，效率的因素，提出了用于降低被测电路对应网络规模的故障压......
自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作......
长庆气田部分气井出现不同程度的井底积砂现象，对气井的正常生产和后期测试产生了一定影响。本文在对国内外冲砂方式进行充分调研的......
在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.定义了三种不同的D前沿,并将测......
为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法－临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）。本文......
With the redesigned jigs for the Thermecmastor-Z thermal simulator,the feasibility of using 3 kinds of Gleeble specimens......
为保证电子产品的质量,对集成电路进行测试必不可少。随着集成电路复杂程度的不断提高和特征尺寸的日益减小,特别是进入深亚微米以......
随着集成电路的集成度、规模以及复杂度呈现出几何级数的增长,测试所需的费用越来越昂贵。这些都给电路测试带来了极大难度,同时也......
集成电路的低功耗设计是当前集成电路研究中的一个重要课题。冒险分析对于集成电路的低功耗设计和保证电路正常工作均具有至关重要......
随着集成电路测试技术的不断发展,瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试方法的一个补充,越来越受到研究领域......
