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自从20世纪末以来,随着世界各国电子工业进入快速发展,电子工业涉及各种各样的元器件,器件的制作工艺越来越复杂,管控精度要求也越来越高。为了提升各段工艺制程的良率,降低不良率。随之而来,自动光学检测设备(AOI)逐渐应用到产品的制程管控中,同时自动光学检测设备(AOI)的要求也逐渐提高,正朝着分辨力高、检测速度快、扫描时间短、拍摄图片清晰、操作软件简易化、设计的模块化和系统处理程序化等方向发展[1]。