近代以来,随着我国航空事业的不断发展,航天技术日益成熟。当电子设备工作在宇宙空间区域时,就有可能发生辐射效应而导致飞行器功能异常,进而造成巨大损失。在航天应用的存储器和处理器电路中,灵敏放大器型触发器具有差分输入可靠性高和建立时间短等优点,获得了广泛的应用。高可靠抗辐射加固的灵敏放大器型触发器结构具有较大的工程应用价值。本文首先研究了现有抗辐射加固的灵敏放大器型触发器结构,分析了其单粒子效应理论基础和错误机理。在此基础上,针对现存结构的不足,通过定时采样技术,提出了一种基于DICE（Dual Interlock Cell Element）结构加固的抗辐射灵敏放大器型触发器电路结构,该电路的锁存部分由双互锁结构连接,增加额外的定时控制信号驱动并联管和短路管,在解决自锁现象的同时,也允许输入数据在采样完成后发生变化。针对更高可靠性要求的应用场合,本文还提出了一种基于DONUT（Double Node Upset Tolerant）结构加固的抗辐射灵敏放大器型触发器,仿真表明,对于750f C沉积电荷的注入,该结构可以从任何单节点和双节点的单粒子翻转中恢复。在性能方面,相对于双模冗余触发器,本文提出的结构具有更强的抗单粒子翻转的能力和更小的传播延时。然后,本文对提出的抗辐射灵敏放大器型触发器给予了实现。在SMIC0.13μm工艺下,采用半环栅和保护环等加固技术对电路进行版图设计,在通过设计规则检查和电路一致性验证后,提取版图中的寄生参数信息。随后,对加固后的触发器电路进行后仿真验证,并对比分析前后仿真的性能参数和抗辐射能力的变化情况。后仿真显示本文提出的触发器结构均达到了抗辐射能力指标要求,同时延时功耗等性能参数较前仿真结果有所增加。最后,本文建立了高可靠抗辐射加固的灵敏放大器型触发器的标准单元,提取了加固触发器的逻辑信息和物理信息,生成了加固触发器的标准单元文件,以便能够应用于后续的大规模抗辐射电路系统的设计之中。