H等离子体表面处理技术实现增强型p-GaN/AlGaN/GaN HEMT

来源 :第十五届全国固体薄膜学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ayopr
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  p-GaN栅结构是一种极具潜力的实现增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)的方法。目前,国内外各研究小组及公司普遍采用刻蚀工艺来制备这种器件。
其他文献
碲锌镉(CdZnTe)晶体是宽禁带Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物,具有优异的光电特性,是制备室温X射线及γ 射线探测器的一种理想半导体材料.CdZnTe欧姆接触特性对探测器性能有重要的影响,一直是人们研究的热点和难点.
Tb具有5D4→7F5的特征能级跃迁,能在许多基质中于540 nm附近产生特征绿光发射,但Tb的猝灭浓度较高且价格昂贵,廉价的Ce作为Tb的敏化剂,可大幅度地提高Tb的发射。
作为GaN基发光二极管和激光器的核心区域,InGaN/GaN多量子阱的发光性能一直是研究的焦点。事实上,尽管InGaN材料本身拥有较高的缺陷密度,其仍然具有较强的发光性能。
GaN基半导体材料由于独特的物理性质使得其在LED以及LD器件中得到了越来越多的重视,具有广泛的应用前景。在GaN基器件中,P型GaN高的电阻率和低的迁移率已经成为了限制GaN基器件发展的一个瓶颈问题,因此对于P-GaN的研究显得尤为重要。
氮化镓作为第三代半导体材料的代表,具有优异的物理和化学特性,使其在在发光二极管和激光器等方面得到广泛的应用。而p-GaN欧姆接触对光电子器件的性能具有直接的影响,因此对p-GaN欧姆接触的研究对提高氮化镓材料在光电子领域的应用具有重要意义。
InGaN基激光器由于其广泛的应用受到越来越多的重视,尤其在可见光波段。但是对于InGaN基紫光激光器仍然存在一系列问题需要解决,例如其量子阱结构相对于绿光激光器较浅引起的电子泄漏较大;量子阱附近的电子阻挡层(EBL)由于其较低的折射率可使光场中心并不完全限制在量子阱区域,导致较低的量子阱光学限制因子和较高的光学损耗;最后一个量子垒(LQB)与EBL界面存在较多的正的极化电荷,导致LQB导带向下弯
InGaN based material and their metal organic chemical vapor deposition(MOCVD)growth technology have attracted a great attention for their successful application in light emitting devices.
针对传统薄膜及晶硅光伏组件功率的推算误差较大的缺陷,该文介绍了一种精确度相对较高的组件功率推算算法,并对其进行实验对比研究分析。通过实验结果的对比与分析,用实际数据论证了组件的该算法的优势。
光学损耗是表征激光器性能的重要参数,对激光器的阈值电流、斜率效率有直接的影响。测量激光器的光学损耗对于激光器的研究具有巨大的推动作用。