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H等离子体表面处理技术实现增强型p-GaN/AlGaN/GaN HEMT
H等离子体表面处理技术实现增强型p-GaN/AlGaN/GaN HEMT
来源 :第十五届全国固体薄膜学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ayopr
【摘 要】
:
p-GaN栅结构是一种极具潜力的实现增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)的方法。目前,国内外各研究小组及公司普遍采用刻蚀工艺来制备这种器件。
【作 者】
:
郝荣晖
付凯
于国浩
宋亮
袁洁
邓旭光
范亚明
蔡勇
张新平
张宝顺
【机 构】
:
南京理工大学 材料科学与工程学院;中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 中科院苏州纳米技术与纳米仿生
【出 处】
:
第十五届全国固体薄膜学术会议
【发表日期】
:
2016年5期
【关键词】
:
氮化镓
HEMT
增强型
氢等离子体
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p-GaN栅结构是一种极具潜力的实现增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)的方法。目前,国内外各研究小组及公司普遍采用刻蚀工艺来制备这种器件。
其他文献
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C
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紫外激光器
电子泄漏
光学损耗
Investigation on the corrosive effect of NH3 during InGaN/GaN MQW growth in light emitting diodes
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针对传统薄膜及晶硅光伏组件功率的推算误差较大的缺陷,该文介绍了一种精确度相对较高的组件功率推算算法,并对其进行实验对比研究分析。通过实验结果的对比与分析,用实际数据论证了组件的该算法的优势。
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会议
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