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单输入变化(SIC)序列可有效降低数字集成电路中待测电路内部节点翻转率.因此,在确定内建自测试技术中,SIC可作为低功耗序列.SIC序列生成技术的关键是SIC序列种子选取.本文通过建立SIC序列理论模型,进一步提炼出SIC序列性质,用以指导SIC序列种子向量选取算法的设计.采用模拟退火算法进行SIC序列和LFSR种子向量协同选取,以优化SIC种子向量数量.采用ISCAS 85与ISCAS 89基准电路进行实验,实验结果表明本文方案可有效减少SIC种子数量,SIC种子释放所生成的测试向量集在降低待测电路功耗的同时,还可保证高的测试故障覆盖率.