静态功耗电流相关论文
本文介绍HCMOS器件的γ辐射损伤和退火效应的结果。HCMOS器件的静态功耗电流和动态特性对剂量十分灵敏,它们的退火效应也很明显。
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针对ＣＭＯＳ个别电路的静态功耗电流ＩＤＤ功率老化失效问题，根据ＣＭＯＳ的设计结构和工艺特点，本文从静电和栓锁的角度提出了几种失效模型并分析了ＩＤＤ几种失......
为了研究大规模集成电路存储器的总剂量辐射效应，分别对SRAM和ROM两种存储器进行了^40Coγ总剂量辐射实验。结果表明，这两种器件是对......
为了解决在评估抗辐射屏蔽封装材料的屏蔽效果时,应该以什么参数作为评判依据的问题,对屏蔽材料封装CMOS器件做了一些研究。通过比......
目前,国内生产厂和用户针对CMOS集成电路静态电流的测试,仍基于现有的标准和产品规范。但是,采用这些测试方法来测试合格的器件,在......
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