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锗单晶圆片相关论文
Φ6.5mm×8.9mm半导体锗单晶圆片电阻率的测定
利用四探针技术对Φ6.5mm×8.9mm的半导体锗单晶圆片的电阻率进行测定,并采用了A、B、C等三种选点方案,结果表明:方案B用少量的测......
期刊
锗单晶圆片
四探针法
电阻率
不均匀性
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