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误差向量幅值(EVM)相关论文
一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法
提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIsT)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试......
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内建自测试
LOOPBACK
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衰减器
射频集成电路
误差向量幅值(EVM)
built-in self-test Loopback design f
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