线不良相关论文
本文综述了双侧GOA(Gate On Array)驱动TFT—LCD的结构以及电路控制方式,对亚像素的电路结构做了说明,并详细阐述了双钡4GOA驱动TFT—L......
针对4-Mask工艺铜数据线腐蚀造成的锯齿状不良现象进行系统研究,发现铜腐蚀发生的工艺步骤和机理,并找到有效的措施。首先,通过显......