扩展相容性扫描树技术通过添加逻辑非和异或函数扩展了扫描单元的相容性,并对相容的扫描单元扫描移入相同的测试向量值,大大减少了......

针对重载履带车辆中传动系统载荷测试数据量过大,信息提取率不高的问题,对该数据的内在分形层次规律进行了研究,证实了该数据具备......

电路在线维修测试仪的最大特点是,能够帮助维修技术人员,在缺乏图纸资料、不了解电路工作原理的条件下,对各种自控、数控设备上的......

据报导,电子设计自动化(EDA)软件工具厂商Synopsys2007年4月23日发布了最新版Design Compiler?综合解决方案——Design Compiler20......

随着集成电路制造工艺的不断进步，单个芯片上集成的晶体管数目越来越多。晶体管数目的增加导致测试数据量成倍增长，测试数据压缩是一......

　　为了减少集成电路测试数据量，本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。本文介绍了参考切片相容性分析的数学基础，并......

随着集成电路制造工艺的不断发展，单芯片的集成度越来越高，通过集成各种IP核，系统芯片的功能更加强大，但同时也带来了测试数据量的快速......

为了减少SoC芯片的测试数据，本文提出了一种基于伪对称编码的测试数据压缩方法。该方法根据0和1的分布特点，在0游程和1游程的基础上......

提出了一种两级扫描测试结构：根据电路结构信息对时序单元进行分组,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入;将时序单元划......

提出一种采用组合电路实现解压缩电路的压缩方法，只需少量的输入管脚，可以驱动大量的内部扫描链．该方法利用确定性测试向量中存在的大......

为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题，提出一种基于random access scan架构的SOC测试......

针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题，对其进行3个方面的改进：选取包含X的扫描单元，选取度更小的......

ATE测试系统进展缓慢集成电路曾使用小规模、中规模、大规模和超大规模来形容其集成度,现在发展到芯片系统,起码集成百万以上的晶......

全扫描设计通过提升电路的可控制性和可观察性,大大降低了测试生成的复杂度,被认为是最有效的可测性设计方法之一。全扫描设计中的......

如今,数字系统已经广泛应用于生活中的各个角落。而对于各种数字系统,集成电路是其中最关键的部分。近几十年来,随着超大规模集成......