正单纯形法相关论文
椭偏测量技术是利用光束在薄膜上反射和透射时出现的偏振变化,通过椭偏仪测量其椭偏参数的变化,用计算机处理由测量得到的椭偏参数......
提出利用同一波长的入射光在双面入射时两个能量之比的比值对光栅的参量进行测量,进一步提高准确度.首先从理论上比较正弦面形光栅......
本文基于光栅的严格理论,提出结合透射光谱和优化算法来测量光栅参数的新方法,首先,利用傅立叶模式理论和反射透射系数递推算法(RT......
提出一种新的光栅测试方法--利用椭偏仪测量光栅的基本参数,同时将求解优化问题的正单纯形法用来反演光栅的椭偏方程.首先假设一种......
将一种广泛用于求解系统优化问题的方法--正单纯形法,求解光栅的椭偏方程.首先,利用求解光栅的傅立叶模式理论对TE和TM波的复反射......
利用透射光谱,结合正单纯形法来反演折射率调制光栅参数,首先利用光栅衍射傅里叶模式理论及RTCM算法得出在200nm~900nm波长范围内的......