椭偏测量法相关论文
用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法制备氢化非晶硅(a-Si:H)薄膜,利用喇曼散射谱、椭偏透射谱和暗电导测试,通过改变辉光放电......
摘要椭圆偏振测量是通过分析偏振光在待测薄膜样品表面反射前后偏振状态的改变来获得薄膜材料的光学性质和厚度的一种光学方法.由......
为研究波片最大双折射率随温度的变化情况。以云母波片为例,根据椭偏测量相位原理,利用椭偏仪的温控装置,对不同温度下云母波片的......
以云母波片为例,根据椭偏测量相位原理,利用椭偏仪的温控装置,对不同温度下云母波片的延迟量进行测量,再根据延迟量与最大双折射率......
