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本文提出的设计方案,以极低的附加硬件资源覆盖了包括附加电路在内的所有单重固定故障、交叉点故障、邻线桥接故障和几乎所有的多......
RAM测试在许多方面不同于传统的随机逻辑测试,RAM阵列故障可用步进测试算法或其它的线性测试算法检测,但这些测试算法不能检测CMOS......
该文提出了一种适合可编程序逻辑阵列的伪穷举测试方法。在增加少量硬件电路的基础上，通过巧妙的逻辑划分，使每一个逻辑子块可用穷举......
提出了一种实用的随机矢量易测试方案，用循环移位寄位器对乘积线进行划分，同时修改原有的输入译码器来减少乘积线和输出线的扇入数。......
本文提出了一种用于边界扫描易测试设计电路中锁存器排序算法，并借助于ＡＴＰＧ自动测试矢量生成工具生成道路延迟故障测试集，其算法已用Ｃ语言......
