截面样品相关论文
ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜......
随着半导体技术的发展,Si基体上生长的高介电常数的钙钛矿晶体氧化物薄膜如SrTiO3(STO)也受到了广泛关注。SrTiO3(a=0·3905nm)在......
截面样品的制备是采用透射电镜(TEM)观察薄膜微结构的关键之一,该文分析了采用离子减薄法制备薄膜截面TEM样品成功率低的原因,并对......
本文根据电子全息的成像原理,分析了在测量La0.5Ca0.5MnO3（LCMO）平均内势的实验中,出现全息相位图中样品两部分的相位分别高于和低于......
针对薄膜材料透射电镜截面样品制备过程复杂、制样成功率低的问题,本文详细介绍了一种操作简单、实用性强的制备方法,采用该方法可......
热浸镀渗铝钢透射电镜制样较困难,本文介绍了借助拷贝纸制备热浸镀渗铝钢透射电镜制样技术.......
针对脆性材料截面透射电镜样品制样难的问题,详细介绍一种改进的离子减薄法制备脆性材料截面TEM样品的方法,即先制备层叠矩形薄片,......
以硅基底上生长的薄膜样品为例，详细介绍了一种新的制备透射电镜截面样品的方法和步骤，即先层叠矩形薄片成块状，然后用低速锯切割得到......
