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受主型界面态相关论文

受主型界面态在深亚微米槽栅PMOSFET中引起退化的研究

界面态引起的器件特性的退化是深亚微米器件失效的一个重要因素。本文基于流体动力学能量输运模型,对沟道杂质浓度不同的槽栅和平......

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受主型界面态深亚微米槽栅 PMOSFET 退化 Grooved-gate PMOSFET Interface state density Threshol

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