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冗余物相关论文
基于像素分布特性的IC晶片视觉检测方法
IC晶片制造过程存在多种致命缺陷,致使芯片失效,导致成品率下降。冗余物缺陷是影响IC晶片成品率下降的重要原因,主要造成电路短路......
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IC晶片
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IC wafer
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