Ellipsometer相关论文
在椭圆偏振仪测量原理的基础上，采用Forouhi-Bloomer模型的参数匹配模型，分析非晶硅的物理性质，利用温度与禁带宽度间的关系，得到利用......
基于椭偏仪实验测量的材料表面镜反射率谱数据，分析和结合了多种常用的光滑样片模型的优点，提出了适用于光滑样片的镜反射率谱模型。......
Influence of Dust Deposition on the Electrical Parameters of Silicon-Based Solar Panels Installed in
In recent years, photovoltaic (PV) modules are widely used in many applications around the world. However, this renewabl......
Ultra-thin silver films were deposited by thermal evaporation, and the dielectric functions of samples were simulated us......
为探究吕家坨井田地质构造格局,根据钻孔勘探资料,采用分形理论和趋势面分析方法,研究了井田7......
提出了一套对椭偏仪的测量误差进行有效修正的方案，设计了一个Windows版的椭偏仪测厚数据处理软件，并在该软件中嵌入了对测量数据的......
斯托克斯椭偏仪一般使用定标的方法来测量其仪器矩阵,其仪器矩阵的优劣直接影响了被测光线斯托克斯参量的精确度与稳定度,从而影响......
介绍了一种基于Labview的消光式椭偏仪光学测量系统，用于进行透明薄膜厚度的精确测量。研究并推导出消光式椭偏仪光学系统的数学模......
介绍了椭偏仪实验装置及实验调整的不足对薄膜参数测量的影响，制作了小孔光阑和可调位移平台，对光接收和实验调整做了改进，给出了改进......
本文介绍了一种基于Labview的光度式椭偏仪光学测量系统,用于进行透明薄膜厚度的精确测量.研究并推导出该系统的数学模型及椭偏参......
首先针对可变入射角的反射法消光椭偏测试系统,讨论其计算公式和求解思路,建立了全局目标优化函数,提出一种网格优化算法,即计算中......
利用反射式椭偏仪测量SiO2光学薄膜材料的光学常数（折射率n和消光系数k）和厚度，并且对测量结果进行建模和线性拟合，同时获得多个参数Is......
成功地将TP77椭圆偏振光测厚仪改装成以卤钨灯或氙灯为光源的广谱椭偏仪.改装后的椭偏仪不含λ/4波长片,而配有一型号为WDG5001A的......
说明原椭偏谱仪不能直接测量膜厚,提出外加波长片后可以测量膜厚的2种方法....
文章采用真空磁过滤电弧离子镀法在单晶Si（100）基片上成功制备了氮化铝（AlN）薄膜,并利用椭偏法对AlN膜进行了研究。根据沉积方法的特点......
为了获得ZrO2薄膜的光学常数,采用了德国SENTECH生产的SE850宽光谱反射式光谱型椭偏仪,测量和分析了用光控自动真空镀膜机沉积在K9......
指出一些实验教材中关于椭偏仪实验原理的一个不确切提法,并给出了详细的分析....
报导了４８６／８０计算机控制的自动化的转动检偏计式的光度法椭圆体育馆振光谱仪的设计和制造。仪器主要由光学系统、机械转动控制系统和数据......
本文采用脉冲电弧离子镀的方法,在p型硅上沉积类金刚石薄膜,用椭偏法测试薄膜的光学常数.根据沉积方法的特点,建立一个四层结构的......
本文利用JGP-560CⅧ型带空气锁的超高真空多功能溅射系统在Si（100）和玻璃基底上沉积了介质薄膜、半导体薄膜、金属薄膜和磁性薄膜,通......
主要针对物理实验教学中椭偏仪实验数据处理中存在的问题,简单介绍了椭偏仪数据处理查询系统软件的设计思想和应用功能,该软件用可......
为了消除单波长消光椭圆偏振仪测量薄膜光学参数的测量误差，从椭圆偏振仪的测量原理和方法分析了椭圆偏振法测量薄膜折射率和厚度可......
详尽介绍了椭偏法测量单层透明薄膜折射率和厚度的方法，采用一种数字迭代计算方法，由测量得到的起偏角P和检偏角A直接算出所测薄膜的......
采用磁控溅射技术在SiO2基底上制备了ZnO薄膜。通过椭偏仪和X射线衍射仪（XRD）对薄膜光学特性、内部结构的表征，分析了氧气浓度和溅射......
基于TCP/IP数据传输协议,实现对红外双傅立叶椭偏仪的远程控制.实验系统主要分为远地用户系统与本地实验服务器系统,远地实验用户......
Already in 1946 Alexandre Rothen from the Rockefeller Institute for Medical Research, New York published the use of elli......
In a recent previous work, we proposed a rotating polarizer-analyzer ellipsometer (RPAE) in which the two elements are r......
本文介绍了ＰＴ—１型椭偏仪的设计思路。与其它同类仪器相比，该仪器的结构有了较大的改进。实测结果表明，该仪器完全能够满足教学和一般科......
