文中提出一种能屏蔽冗余测试码序列的新型BIST结构。通过重用并行数据端口控制可控长度计数器的计数值，进一步控制特征分析器的测试......

本文对国内外已提出的数模混合电路的BIST进行了有效的探讨,归纳总结,总结了他们各自的结构特点.并提出了一种基于功能测试的数模......

构造BIST(Built-InSelf-Test)单元是逻辑电路层次化BIST设计的重要组成部分.对于不同的被测对象CUT(CircuitUnderTest),BIST单元需......

模拟集成电路的复杂性的制造密度的提高，使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务，传统的模拟电路的测试，被局限在外接一定数目......