对Ａｕ／ＡｕＧｅＮｉ／ｎ－ＧａＡｓ欧姆接触进行了三种不同的应力试验：（１）高温存储（ＨＴＳ），（２）常温大电流（ＨＣ），（３）高温适当电流。试验结果表明，三种试验均造成了试验后期欧姆接触电阻增大，最......

本文研究了加热过程中GaAs单晶上的AuGeNi膜和AuGe膜表面形貌的变化。利用扫描电镜对加热到150～530℃的AuGeNi、Au/AuGeNi、AuGe和A......