PECVD a-Si:H薄膜对TFT有源矩阵性能的影响及其淀积工艺研究

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分析了a-Si:HTFT有源层──a-Si:H薄膜质量和厚度对于a-Si:HTFT关键性指标(通断电流比、阈值电压、响应时间、开口率)的影响,深入、详细地研究了PECVD衬底温度、RF功率和频率、气体流量和反应室气压等淀积工艺参数对a—Si:H薄膜组分、结构的影响,并在实验的基础上给出了它们之间的关系曲线,确定了最佳淀积工艺参数,从而获得了高性能的7.5cm372×276象素a-Si:HTFT有源矩阵。 The effects of a-Si: HTFT active layer-a-Si: H thin film quality and thickness on critical a-Si: HTFT parameters The effects of deposition parameters such as substrate temperature, RF power and frequency, gas flow rate and reaction chamber pressure on the composition and structure of a-Si: H thin films were studied in detail. Based on the experimental results, The best deposition process parameters were determined, resulting in a high-performance 7.5cm372 × 276 pixel a-Si: HTFT active matrix.
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