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本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动态字存储器测试算法。通过Ver ilogHDL语言仿真了一个 2k 4 12 8的故障动态存储器 ,测试时采用存储器的BIST结构 ,实验的结果表明该测试方法对所有故障的覆盖率均为 10 0 %。