【摘 要】
：
传统的装调方法已经不能满足中高端光学系统的性能要求，目前采用精密定心仪设备对其精细装调，最终得到高质量像质。设计了一种精密反射式定心仪设备，包括设计原理及其涉及的准直物镜、基准转台、升降台及设备显控等技术; 介绍了设计实例及其关键部件，包括准直物镜、精密转子、电控升降台及显控模块; 介绍了装调应用效果，结果显示装调镜头中每片透镜的同轴度都达到了 2μm以内，保证了像质。应用效果表明，如此设计的定心仪不仅完全能胜任高精度光学镜头的装调和中心偏测量，还可以提高装调效率。
【机 构】
：
华中光电技术研究所—武汉光电国家研究中心，湖北武汉430223中国人民解放军海军装备部装备项目管理中心，北京100040
论文部分内容阅读
传统的装调方法已经不能满足中高端光学系统的性能要求，目前采用精密定心仪设备对其精细装调，最终得到高质量像质。设计了一种精密反射式定心仪设备，包括设计原理及其涉及的准直物镜、基准转台、升降台及设备显控等技术; 介绍了设计实例及其关键部件，包括准直物镜、精密转子、电控升降台及显控模块; 介绍了装调应用效果，结果显示装调镜头中每片透镜的同轴度都达到了 2μm以内，保证了像质。应用效果表明，如此设计的定心仪不仅完全能胜任高精度光学镜头的装调和中心偏测量，还可以提高装调效率。
其他文献
采用直流磁控溅射法制备了ZnO薄膜, 研究了沉积过程中变换氧分压对薄膜光电性能的影响。采用XRD、紫外可见光分光光度计及AFM等方法对薄膜的结构和光电性质进行了表征。结果表明, ZnO薄膜在可见光范围内的透过率可达88%, 并且随着氧分压的增大, 薄膜的透过率也增大; 制备出的ZnO薄膜表面粗糙度为0.41nm。在glass/ITO/ CdS/CdTe结构的太阳电池中, 将本征ZnO薄膜作为高阻层加入到ITO与CdS之间, 电池的开路电压和填充因子有明显的提高, 加入高阻层之后, 电池的转换效率最高可达1
A model for calculating loss and crosstalk in WDM passive optical network based on spectral slicing is proposed in this paper. Through theoretical analysis and numerical calculation, the relationship between loss or crosstalk and the parameters of the sys
光学相干层析显微成像(OCM)技术是一种使用相干探测的光学显微成像技术。OCM不仅具有光学相干层析成像技术(OCT)高轴向分辨、高信噪比、无需标记的优势,而且能通过高倍物镜获得高横向分辨能力,能实现微米量级的空间分辨率。首先介绍OCM技术的基本原理和实现方案,然后详细阐述OCM技术的原理以及在国际上的研究进展。针对OCM技术中如何实现超高分辨成像、焦深限制成像深度等问题,对目前该研究领域一些先进的
We have been studying various types of computer-generated holograms for three-dimensional (3D) displays both for a real-time holographic video display and a hard copy, or a printed hologram. For the hard copy output, we have developed a direct fringe prin
扩散光学层析成像(DOT)是一种利用近红外光来探测生物组织光学结构的低成本、无辐射损伤、成像深度深的在体光学功能性成像技术。由于生物组织体自身需满足强散射、低吸收以及成像空间分辨率高等需求,因此DOT重建的逆问题具有严重的病态特性。传统的逆问题解决办法主要是基于代数迭代的重建方法,随着人工智能的发展及大数据时代的到来,深度学习研究掀起了一个新高潮,基于深度学习网络模型的逆问题解决方法逐步被用于DO
提出了一种基于多传感器的三维目标位姿测量方法,该方法利用多传感器技术,充分发挥深度相机和高分辨率电荷耦合器件(CCD)相机各自的优势,提高了测量的稳健性和效率。利用物体与其固定平面之间的关系,在点云中粗略定位出目标区域,通过预先标定信息将目标区域转换至灰度图像空间。在灰度图像中,利用线段检测器(LSD)算法外加特征约束,筛选出4条目标直线,利用透视4点(P4P)算法求解出目标的六维位姿。实验验证了
用化学气相淀积(CVD)的方法, 在6H-SiC衬底上同质外延生长SiC层, 继而外延生长了Si1-yCy合金薄膜, 用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、拉曼散射等方法对所得的样品进行了表征测量, 着重研究了生长得到的Si1-yCy合金的晶体结构。SEM结果显示6H-SiC外延层上生长的Si1-yCy合金薄膜表面平整, 晶粒大小均匀; XRD衍射谱仅显示单一的特征衍射峰(2θ约为28.5°), 表明得到的合金薄膜晶体取向单一, 其晶体类型为4H型; 粗略估算, 合金薄膜中C含量约为3.7%。