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采用真空熔炼和热压烧结技术制备了 K 和Al 共掺杂 Bi2 Te2.7 Se0.3热电材料.利用 X 射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对样品的物相结构和表面形貌进行了表征. XRD 分析结果表明,K0.04 Bi1.96-x Alx Te2.7 Se0.3块体材料的 XRD 图谱与 Bi2 Te2.7 Se0.3的 XRD 图谱对应一致,SEM 形貌表明材料组织致密且有层状结构特征.K0.04 Bi1.92-Al0.04 Te2.7 Se0.3合金提高了材料的 Seebeck 系数,K0.0