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机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT电路,配合专门的BIT软件,以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的。但是较高的虚警率一直是阻碍BIT技术在机载计算机中广泛应用的一个重要原因。文章在对机载计算机BIT虚警机理模式进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT虚警问题的分析方法,并给出BIT设计策略及关键技术解决方案。经过实例分析证明该策略明显降低了虚警率,提高了机载计算机的可靠性及可维护性。