【摘 要】
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用衍射仪测得的衍射线的半高宽,经过 Kα_1、Kα_2双线校正和仪器因子的校正,代入 Scherrer 方程来计算晶粒的平均大小。绘出了双线分离度Δ2θ与衍射角2θ之间的关系曲线、
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用衍射仪测得的衍射线的半高宽,经过 Kα_1、Kα_2双线校正和仪器因子的校正,代入 Scherrer 方程来计算晶粒的平均大小。绘出了双线分离度Δ2θ与衍射角2θ之间的关系曲线、标准样品和试样的衍射线半高宽的双线校正曲线以及仪器函数与晶粒函数的校正曲线.
The full width at half maximum of the diffraction line measured by diffractometer was calculated by Scherrer equation after Kα_1, Kα_2 two-line calibration and instrument factor correction. The relationship between the two-line resolution Δ2θ and the diffraction angle 2θ, the two-line calibration curve of the full width at half maximum of the diffraction line of the sample and the sample, and the calibration curve of the instrument function and the grain function are plotted.
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