基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计

来源 :中国测试技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：tinnawang

【摘要】

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VXI高速数字测试模块主要用于数字板卡和数字系统的测试,也具有逻辑分析仪和数字信号发生器的功能.本文讲述了基于VXI总线的高速数据测试模块硬件电路设计.设计包括VXI总线接

【作者】

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周启忠顾亚平陈光

【机构】

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电子科技大学自动化工程学院

【出处】

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中国测试技术

【发表日期】

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2006年3期

【关键词】

：

VXI总线消息基字串行协议双端口RAM VXI bus Message based Word serial protocol Dual-port RA

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VXI高速数字测试模块主要用于数字板卡和数字系统的测试,也具有逻辑分析仪和数字信号发生器的功能.本文讲述了基于VXI总线的高速数据测试模块硬件电路设计.设计包括VXI总线接口电路,高速数据通道（FDC）传输电路,本地数据处理电路和64路可编程I/O电路.充分结合VXI消息基接口的优点,实现了高速数据测试;实时数据比较和故障诊断功能,并对设计过程存在的问题进行讨论.

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