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在1.0～2.0 GPa和320～700 ℃下,12～105 Hz的频率范围内,进行了辉长岩的电导率就位测量,并用阻抗谱分析了其微观电传导机制.结果表明;电导率对测量频率具有依赖性.复阻抗平面上只出现了反映颗粒内部传导机制的阻抗弧,在高压下这种机制起主导作用,该阻抗弧出现在105～n×102 Hz(n为1～9的正整数)的频率范围内.以本实验所获得的电导率结果和前人的工作为依据得出辉长岩不能在中下地壳形成高导层的结论.