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高压LDMOS导通电阻的高温特性分析
高压LDMOS导通电阻的高温特性分析
来源 :电子学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gyl720909
【摘 要】
:
本文提出了在LDMOS的高温等效电路,讨论了LDMOS泄漏电流及本征参数在25℃-300℃范围内随温度变化规律,根据本文分析:源漏Pn结的反向泄漏电流决定了LDMOS的高温极限温度,导通电阻
【作 者】
:
柯导明
陈军宁
【机 构】
:
安徽大学电子工程系
【出 处】
:
电子学报
【发表日期】
:
2002年8期
【关键词】
:
高压LDMOS
导通电阻
高温等效电路
泄漏电流
本征参数
high voltage LDMOS
on-resistance
high temperature
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本文提出了在LDMOS的高温等效电路,讨论了LDMOS泄漏电流及本征参数在25℃-300℃范围内随温度变化规律,根据本文分析:源漏Pn结的反向泄漏电流决定了LDMOS的高温极限温度,导通电阻与温度的关系是(T/T1)^y(y为1.5-2.5)。
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