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为了准确测量不同材料在实际环境中的二次电子空间分布,设计了一种新型的二次电子发射空间分布测量结构,给出了实验测量原理,用求解特征矩阵的方法对实验结果进行处理,得到了所需的二次电子空间分布。通过模拟计算对该测量方法进行了校验,模拟结果与假设二次电子空间分布函数相吻合,表明该测量方法可靠、测量精度高,为后续样机研制奠定了理论基础。