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目的观察过氧化氢(H2O2)诱导SH—SY5Y细胞损伤后对线粒体膜电位的影响。方法向培养的SH—SY5Y细胞加入H202100、200、500μmol/L作用24h诱导产生氧化损伤,应用MTT比色法检测细胞存活率,测定培养液中一氧化氮(NO)含量;并采用流式细胞仪检测细胞凋亡及线粒体膜电位。结果与空白对照组比较,其他实验组随H2O2浓度的加大,细胞存活率、线粒体膜电位逐渐下降,而NO的释放量及细胞凋亡数显著性增多,差异均有统计学意义(P〈0.05)。结论H2O2可引发细胞内NO的产生,使线粒体膜电位下降,