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针对光电耦合器在LLC谐振半桥拓扑结构中的应用失效问题,通过参数测试、X射线透视检查、制样镜检、机械开封、电子显微镜观察与能谱分析等手段开展失效分析,确定失效是由于光电耦合器存在批次性的工艺缺陷导致,并提出了相应的缺陷识别及工艺改进方法,为光电耦合器的可靠性增长提供了实践依据。
光电耦合器应用失效研究
【摘 要】
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针对光电耦合器在LLC谐振半桥拓扑结构中的应用失效问题,通过参数测试、X射线透视检查、制样镜检、机械开封、电子显微镜观察与能谱分析等手段开展失效分析,确定失效是由于光电耦合器存在批次性的工艺缺陷导致,并提出了相应的缺陷识别及工艺改进方法,为光电耦合器的可靠性增长提供了实践依据。
【机 构】
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中国南方电网超高压输电公司贵阳局,工业和信息化部电子第五研究所
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2021年4期
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