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本文介绍了利用透射电镜多图像拼接法测量纳米氧化镍的粒度分布。该方法通过SIS软件附带的MIA多图像拼接功能拍照得到拼接图像,经过独立测量每个照片中不少于100个纳米氧化镍颗粒的尺寸,并由此计算出颗粒平均粒径尺寸为20.6 nm,该结果与X射线衍射的测量结果非常吻合。通过MIA拼接方法可大幅度提高数字CCD相机的视野范围,从而有效解决了透射电镜法测量小尺寸纳米材料粒径的采样代表性问题,为纳米材料粒径测量提供了新思路。