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同时测量U、V场的云纹干涉系统

来源 :实验力学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：werr2000

【摘 要】

：

本文介绍了两种可以同时测量物体变形U、V场的云纹干涉系统.并利用该系统成功地完成了有塑性变形高分子材料的泊松比测量实验.

【作 者】

：

戴福隆 李超 

【出 处】

：

实验力学

【发表日期】

：

2002年z1期

【关键词】

：

云纹干涉法 同时测量 图像分离 

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本文介绍了两种可以同时测量物体变形U、V场的云纹干涉系统.并利用该系统成功地完成了有塑性变形高分子材料的泊松比测量实验.

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