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集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷.
存储器的测试技术
【摘 要】
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集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测
【机 构】
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沈阳化工学院信息工程学院
【出 处】
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计量与测试技术
【发表日期】
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2005年4期
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