掺Al富Si/SiO2薄膜制备及紫外发光特性研究

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采用射频磁控溅射技术制备出掺Al的富Si/SiO2复合薄膜,以不同退火温度对样品进行热处理。对样品进行X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、红外吸收光谱(FFIR)、光致发光(PL)和光致发光激发谱(PLE)检测。结果表明SiO2薄膜中存在纳米Si晶粒,并且含有AlOx成分。室温下,可以观察到位于3.24~3.42ev的较强紫外光致发光,其发光强度随退火温度和Al含量的变化而变化。分析表明该发光带与SiO2中的氧空位缺陷有关,缺陷分布与纳米&的形成以及不同Al含量的氧化有关,从而影响薄膜发光强
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