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在专用集成电路设计中,基于功能单元的片上系统(FCBSOC,function-core-basedsystem-on-a-chip)设计技术正得到广泛使用.这种片上系统的可测性设计方法很多,如Fscan-Bscan法、Fscan-Tbus法和层次化测试生成法等.通过对这些可测性设计方法的研究,该文提出一种测试开销低、测试故障覆盖率高的层次化分析法来实现专用VAD(Videoadddata)集成电路的可测性设计.