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当ADC测试数据与理想模型的偏差为随机的高斯噪声时,基于正弦曲线的ADC测试方法能够取得较好的拟合效果,然而实际应用时却经常发现标准的正弦曲线测试往往会出现一些偏差。为了减少拟合时的不确定因素,对正弦曲线拟合过程进行了分析,通过仿真找出了产生偏差的主要因素,并对其进行了更正。仿真结果表明了该方法的有效性。