在工业环境中,对液晶面板的检测多为人工检测,检测结果主观性强,检测效率低,而且一般只是抽样检测,不能满足工业化生产对液晶面板产品质量的检测要求。随着自动化技术的进步,工业生产对液晶面板的自动化检测的需求越来越大,自动化技术也是各个行业的研究重点。本文研究的液晶面板IC区域导电粒子自动光学检测算法能很好地解决当前人工检测的不足,检测效率和误检漏检率都能满足工业生产的检测要求。本文首先对COG技术原理做了介绍,通过分析人工检测的不足,提出了基于机器视觉的自动光学检测方式来进行检测。该方式能弥补人工检测的不足,成本较低而且检测效率高。其次,对检测系统的总体设计方案进行了介绍,整个检测系统是由硬件和软件两部分组成,分为运动控制模块、图像采集模块、软件交互模块和检测算法模块,其中PLC控制整个检测系统的机械运动,工控机则控制相机采集图像,运行检测算法。然后,对采集的导电粒子图像进行分析。因为采集的原始图有很多不感兴趣的信息,所以需要对原始图像进行处理,从整个图像中提取出感兴趣的导电粒子区域,并对图像进行去噪和光照不均校正处理。最后,针对导电粒子具有灰度值变化较大的特征,提出了一种基于光照方向局部均值差值的导电粒子检测算法,通过对导电粒子的灰度特征进行增强,大大降低了导电粒子检测的误检率和漏检率。针对多个导电粒子可能相互粘连从而形成一个大的连通区域,使用局部极大值法来计算导电粒子个数和位置。针对COG热压也会存在偏移误差导致触摸面板不合格的情况,提出了一种导电粒子绑定区域偏移值的计算方法,能准确计算出偏移值。本文的特点在于提出了新的导电粒子检测算法,相对于极值差值算法误检率降低了1.3%,漏检率降低了1.2%。在双平台并且液晶面板上有4个IC区域的工作情况下,对多个液晶面板进行检测,平均每个液晶面板的算法运行时间为2.51秒,总的系统检测时间为4.85秒,完全满足工业上的检测需求。据查阅国内外重要数据库的结果,使用本文的方法对导电粒子进行检测国内未见相关报道。