随着超大规模集成电路(VLSI)设计技术和集成工艺的不断发展，芯片上的处理单元的集成度越来越高。这些被集成的处理单元以网状连接形式形成阵列。对于数量众多的处理单元来说，如果芯片使用时间过长，或者外界环境比较恶劣，那么，芯片中就可能出现故障单元。因此，VLSI阵列的容错技术就显得尤为重要。　　 VLSI阵列的容错技术主要包括两种：冗余方法和可降阶的方法。其中，可降阶的方法是当出现故障单元时，使用现有的无故障单元重新构造一个满足特定条件的子阵列的方法，用这种方法构造的子阵列是一个只包含无故障单元的子阵列，这种子阵列被称为目标阵列(或者逻辑阵列)。因此，这种方法的目标就是在某些限制条件下(例如开关机制等)，在一个含有故障单元的主阵列上重新构造一个无故障的目标阵列。　　 在加速高性能子阵列的构造算法中，对现有的重构算法予以改进。新算法在最好的情况下只需要进行1次赋值操作，在最坏情况下只需进行1次加法和1次比较操作，而原算法则需5次操作(1次赋值，2次加法和2次比较)。实验结果表明，与原算法相比，运行时间缩短了28％，并且重构后的子阵列的内部连接长度的误差被控制在可以接受的范周内。　　 在构造温控子阵列部分，提出了构造温控子阵列的方法。构造了最大的温控子阵列，对这个最大温控子阵列进行优化，并提出了温控子阵列的温度的下界，以此来衡量算法的优劣。实验分别对故障单元随机分布和聚集分布的情况进行讨论。软件模拟结果显示，在故障单元随机分布的情况下，当故障率很大时，优化后的温控子阵列的平均温度逐渐接近其下界，因而说明，温控子阵列的优化算法具有渐近最优性。在故障单元聚集分布时，温控子阵列的优化算法也能达到类似的效果。