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基于掺铒光纤的放大自发辐射光源(ASE光源)和InGaAs PIN光电探测器常常被一起应用到很多领域。它们做为整个光电系统的光信号提供者和光信号接收者,其性能变化严重影响整个系统的稳定性。在使用过程中其噪声的增加会大大减低输出信号真实性,然而对于这类寿命长、可靠性高的光电元器件,要在短时间内获得其长期使用过程中噪声的变化规律需要加速老化实验来实现。因此利用加速老化实验研究ASE光谱光源和InGaAs PIN光电探测器的噪声演化特性,对其在光通信、空间遥感等领域的应用有着重要的意义。本文的主要内容及结构可以归纳如下:1.介绍了加速老化实验的相关原理和概念,包括加速老化实验的分类及寿命分布特性。在此基础上,详细介绍了高温加速老化理论和空间辐照加速老化理论。2.对InGaAs光电探测器在高温加速老化实验中的噪声特性演化和可靠性数据进行了研究。实验中,将温度恒定控制在358K,实时测量探测器1488小时长期稳定工作过程中噪声的演化规律。根据实验结果发现探测器输出热噪声增大了20%,暗电流噪声增大了0.35%,得到探测器正常工作约10.8年后,其本底噪声将增大20%。通过对比老化前后探测器线性区的变化情况,发现经过加速老化后两个探测器线性区分别缩短了13.31%和9.95%。并在实验结果基础上对经长期老化后的探测器输出噪声模型公式进行了修正。3.研究了ASE宽谱光源在高温加速老化和空间辐照加速老化过程中的噪声演化规律和可靠性结果。设计实验方案利用343K高温加速老化实验研究了ASE光源在室温正常工作47616小时过程光噪声的演化规律,在此过程中光噪声先快速下降了约7.41(μV)2/Hz,而后缓慢增加了约1.28(μV)2/Hz。分析光源光功率与光噪声的关系,得到相对强度噪声ɑ系数和散粒噪声系数β都随温度的增大而增大,同时也随输出光功率的升高而增大。另外,设计实验研究了光源在不同辐照剂量率和总辐照剂量条件下光噪声的演化规律。实验结果表明辐照会使光源输出功率整体上不断下降,对短波长的影响小于对长波长的影响。在剂量率分别为0.083Krad/s和0.0083krad/s时光噪声随时间呈现出先增加后降低的趋势,大辐照剂量率下变化明显快于小辐照剂量率。光噪声随辐照剂量总体上也呈现先升高后下降的趋势,并在2.5Krad时达到最大。